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fischer镀层膜厚仪
产品型号:XDV
fischer镀层膜厚仪是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手,一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层.元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%,镀层厚度最薄可达0.005um,一般在20um内,小孔准直器(最小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。

fischer镀层膜厚仪只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。

参考价格:41000
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