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膜厚测量仪-fischer
产品型号:XDL
膜厚测量仪-fischer采用DMC测量法能对测量距离修正,可以自动测量复杂的形状,大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。膜厚测量仪-fischer配备微焦距XRAY管,四个电动移动准值器,尺寸为圆形直径0.1MM;0.2MM;及方形的0.05MM*0.05MM;0.03MM*0.2MM,还有三个基本滤片选用,使光谱圈更合适分析,基本操作软件WINFTM V6 LIGHT,可以同时间测量多至层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是最多测量两个正离子的药水浓度测量分析,采用最新数学FP法,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏。

膜厚测量仪-fischer应用领域:
1、分析电子部品电镀层的厚度
2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析

参考价格:0
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