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Viewmm全自动光学三坐标测量仪
产品型号:Benchmark
View Micro-Metrology全自动光学三坐标影像测量仪(ViewMM)是一家专业的光学测量设备供应商,生产适合过程工艺控制测量应用的全自动高精度光学三坐标影像测量系统&超高显微量测系统。

现代加工制造和装配业持续朝着微型化、自动化发展,同样,检测技术也日趋要求高精度、高速度的检测测量方案。很多测量技术都能提供高精度测量,但仅有部分能把准确的测量和高速度、高精度以及高重复性商化于一体。然而View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪却将现代检测需要的这一苛刻检测性能要求集于一体,满足全自动高速的过程测量应用。View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪以结果证明其言行,View以其可追述至美国国家标准技术研究院NIST的可靠的性能和精度服务于世界60多个国家,以所测得数据回馈客户,将客户风险降至最低,有效控制成本!测量仪器,View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪是您正确的选择伙伴,您会体会到与众不同的优势!View 光学三坐标独特的Element软件,只需导入CAD图,系统即可完成全自动的几何尺寸测量,省去编程时间。优化最高的检测效率。

View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪适用范围:
◆Flip chip、BGQ、QFP、QFN、MCM等先进封装间距、线宽、角度、弧度、高度等尺寸测量
◆ SMT组装装配、PCB&FPCB挠性电路等关键尺寸测量
◆ 丝网印刷孔径、位置、厚度、角度等测量
◆ Bump on die、Solder Paste、 光纤关键尺寸测量
◆IC & LED封装引线架Leadframes、探针卡角度、间距、高度等测量
◆ LED SMD封装测量,包括胶高、间距等测量
◆PhotoMask、MEMS晶圆级检测、关键尺寸测量等应用

View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪特点:
◆ 1976年推出世界第一台高速影像测量光学三坐标;
◆ 花岗岩铸铁基底平台,稳定可靠,运动平稳;
◆ 全鼠标、手柄操作,简单易用;
◆ 亚像素分辨率全自动寻边功能,尤其可精准的处理弱边功能
◆ 固定双倍率光学镜头,1X/4X高低倍率瞬时切换,精度和重复性高于变焦镜
◆ 1/10~1/50的亚像素分辨率,保证高重复性和准确的弱边寻边
◆ 程控彩色环形LED光源,LED背光源&同轴光,角度和方向可调控,增强表面检测性能和灵活性
◆ 专利的Ronchi grid自动聚焦技术,适用于表面光滑或透明的材质高度测量
◆ 可加装激光测头
◆ VMS全自动可编程影像测量、数据分析软件,多种输出方式(CAD、notepad、excel)
BenchMark250
◆ 测量范围(XYZ):300 x 150 x 150 mm
◆ 测量精度:E2 (XY) = (2.0 + 5L/1000)um,E1 (Z-axis) = (3.0 + 5L/1000)um,L:测量长度mm
◆ LED背光、LED同轴表面光
◆ 承载力:25kg
Benchmark 250 应用范围:注塑部件、机械部件、电子元件组装、半导体封装、光纤器件或150mm 以内的晶圆产品。


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