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光学仪器展厅 |
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| PL Mapping快速扫描荧光光谱仪
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PL Mapping快速扫描荧光光谱仪
NANOMETRICS RPM2000
1.可对半导体Wafer进行微区均匀性测量和表面分析
2.可测Wafer单点的PL光谱，并给出峰位、峰强、半高宽和
积分强度的数据
3.可进行膜厚和VCSEL特性的反射测量
4.波长范围：340～1700nm
5.波长精度：≤0.01um
6.最高分辨率：0.52nm
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| 参考价格：1 |
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| 深圳市傲内电子有限公司 |
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地址： |
广东·深圳市宝安区石岩镇台湾工业区三重大厦B栋2楼
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电话： |
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