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霍尔效应测试系统
霍尔效应测试系统
产品型号:X3
产品规格:
1、 软件操作环境
Windows 98 / ME / 2000 / NT / XP环境下
2、 实验测试参数
体载流子浓度、表面载流子浓度:107 – 1021(1/cm3)
迁移率、霍尔系数:1 - 107(cm2/Volt.sec)
电阻率:10-4 - 107(欧姆.㎝)
磁致电阻;
电阻的纵横比率;
3、 仪器尺寸和重量
主机尺寸:89mm 高 × 213mm 宽 × 370mm 长
重:3.21kg
工作环境要求:0°–50°C, 70%R.H.
存储环境要求: –25°C to 65°C.
范德堡尔法则终端转换器:200×120×110 mm (W×H×D);
净重:7.7千克;
4、 测量材料
Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型);

参考价格:1
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地址: 广东·深圳市宝安区西乡街道恒丰工业城C1栋301
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