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| SP25M扫描测头
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新型SP25M扫描测头，采用创新性的Renscan技术，具有极大的灵活性的同时保持了良好的扫描性能。作为创新一代的产品，SP25M集两种测头为一身，可通过扫描进行形状的评价，同时通过触发测量，完成尺寸和位置的测量。
凭借25 mm的直径，SP25M能够固定在机械式关节测座，如 PH10M，并可配备PEM系列加长杆，从而能够触测到较深的特征。
具有一整套内部可更换扫描测头模块，能够连接从20 mm到 200 mm长的探针。同所有的RENISAHW扫描测头一样，SP25M具有动态探针更换功能以及碰撞保护功能。
更大的灵活性还表现在SP25M模块化的设计，允许Renishaw TP20测头能够连接以执行触发测量，从而可使用在不需要扫描和进行离散点的采集的场合下。
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