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光学仪器展厅 |
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| 量子效率量测系统 QE-1000/日本大冢
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| 产品型号：QE-1000 |
量子效率量测系统 QE-1000
产品特色：
瞬間內部量子效率量測。
大幅降低紫外光領域的迷光現象，對高量子效率的樣品展現出卓越的測量性能。
去除再激發的螢光發光，對帶有高反射率的樣品具有優異的量測精度。
搭配分光光譜儀(MCPD)，實現高感度、高穩定性的光譜解析。
軟體的自動量測功能，可達到掃描激發波長與量子效率的同時量測。(選配)
应用范围
受紫外光激發的螢光粉體頻譜量測
LED所使用的螢光材料頻譜量測
光激發頻譜量測
LB膜、機能性分子膜的螢光頻譜量測
生物發光、散亂光的螢光頻譜量測
型号规格
樣品尺寸
波長範圍 240nm ～ 800nm
分光元件 回折光柵，焦點距離 F=3、f=135mm
波長精度 ±0.3 nm
檢出元件 CCD影像感測器(電子冷卻)
檢出能力 1.2nm/pixel
受光光纖 石英製，金屬包覆，固定口徑∮12mm
消耗電力 100V/200V125VA
光源套件 氙燈 + 光譜儀
激發波長 250nm ～ 600nm
波長掃描方式 Sine Bar方式(手動 / 自動)*
消耗電力 415VA
AC輸入 100V±10%50/60Hz
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| 参考价格：面议 |
| 公司其它产品：
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| 苏州诺威特测控科技有限公司 |
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地址： |
江苏·苏州市高新区金枫南路198号
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