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| 7100 LTE综合测试仪
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用于测试无线设备RF、基带和协议层，支持多种无线接入技术的LTE网络仿真器。
LTE FDD与TDD信令网络模拟
开发与Call-Box工作模式
适用于广泛的RF测试
完整的RF参数测量套件
丰富的预配置36.521 RF测试例
TTCN-3支持
频率范围达6 GHz，涵盖所有LTE频段和带宽
协议记录与分析
支持多小区与Inter-RAT切换
多种无线接入技术 (RAT) 测试: LTE、eHRPD、1xRTT、GERAN、HSPA和TD-SCDMA
功能测试
端到端IP分组数据测试
集成衰落/AWGN选件
MIMO 4x4 – 即将发布
采用远端API自动测试
嵌入基于Windows® XP的控制器PC
先进的12"触摸屏GUI
Aeroflex 7100 LTE 综合测试仪为 UE 芯片组和终端提供设计、开发和测试工具，满足3GPP Rel-8 标准的要求。
7100 LTE 综合测试仪的用户包括RF开发人员、协议栈开发团队、集成测试团队和预认证实验室，以及基于LTE标准进行子系统开发和集成设计的部门。7100还支持生产线末端测试，可在大规模生产线上进行抽样测试。7100具有易用、综合测试功能、快速和拥有成本低等优点，可使这些团队从中受益。
7100模拟E-UTRAN和EPC (增强型分组核心)，为LTE终端提供真实的测试环境。测试程序控制仿真网络的特性，可创建大量重复使用的测试情景。测试仪可集成衰落模拟器和加性高斯白噪声 (AWGN) 源选件，在实验中建立实际环境下的信号条件。
LTE开发模式支持详细协议记录与分析
针对协议栈的开发和集成，7100开发模式提供先进的L1、L2和L3协议层记录功能，解决开发过程中出现的问题。信息过滤与搜索功能便于导航。利用情景向导 (Scenario Wizard)，通过简单的拖放图形界面可轻松创建采用所有LTE子层的定制测试情景。
LTE在有讯号模式支持功能和应用测试
测试仪具有用来描述LTE移动设备性能的所有关键测量功能，无论无线电接口，还是协议栈，包括PCDP和IMS层。利用7100网络仿真模式，可以准确评估设备的端到端性能，以及正确的空闲模式和连接模式行为。在有讯号 (Call Box) 模式便于测试活动管理人员定义测试顺序并利用7100触摸屏GUI进行测试。
LTE物理层测试与RF参数测试
7100矢量信号分析仪/矢量信号发生器 (VSA/VSG模式) 可对LTE发射机和接收机性能进行综合RF参数测试。FDD和TDD工作模式可选择大量基于3GPP 36.521定义的LTE RF测试例。
实际条件下进行数据流量测试
7100集成LTE基带衰落、AWGN和内置RRM测试功能，可模拟实验室环境下各种实际信号条件。采用创新的基于软件定义的无线电技术不仅有助于降低测试环境增加衰落模拟测试的成本，而且可在设计过程中提前完成测试，减少后期重新设计的费用，降低内场实验成本并缩短时间。
切换与多种无线接入技术测试
7100 LTE数字无线电测试仪可模拟无线接入技术之间的系统选择以及系统重选程序。LTE与任何支持的无线标准之间的切换可通过一台7100无线电测试仪来完成。系统扩展功能还支持非LTE标准、2G和3G之间的Inter-RAT切换。
自动化测试开发环境
7100配有开放式应用编程接口 (API)，便于全面控制测试脚本的开发。7100 BSE命令行界面可以精细控制L1/L2层，以及整个协议栈的操作。BSE应用编程界面通用功能可用来配置和控制RRC/NAS层、生成测试情景、捕获参数测量结果并控制记录。
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