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| 霍梅尔-艾达米克 nanoscan 855高精粗糙度和轮廓测量设备
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Nanoscan 855使用了高科技创新的光机测量设备.
工件表面接触扫描的信号通过一个高精的机械测杆传递到光栅尺，然后再利用激光干涉的原理获得测量结果. 这个创新性设计使nanoscan 855成为高精测量设备应用领域内的另一个选择.
同时高效得完成粗糙度和轮廓的测量
科技创新点
• 电子测臂可以根据每一个测量任务电子化自动地探测测臂，错误装载的情况将会被排除
• 电子测针保护装置（已申请专利）用电子速度限制器来防止测针刚性接触工件时发生的损伤
• 根据测尖的不同，电子测力的可调设置可以避免测量的错误和测尖的损伤
• 高精测臂可定位于小孔测量以及断面的自动测量
新的评估功能
• 粗糙度和轮廓的综合评价,粗糙度和轮廓可以被同时测量并显示在同一个评估报告中. 基于大范围的测量行程以及可对零件做上下位置的测量，nanoscan 855是一款柔性设备.
• 上下位置的测量,复杂的测量任务常常需要上下两面的单向测量，这样的测量任务就可以装载一个双向测针完成，节省了测针的方向调整.它的一个扩展应用,可以实现对内孔的直径以及内孔曲线的平行度和几何角度的分析.
• 大行程的形貌测量 形貌测量需要一个大范围的测量行程和高分辨率的Y轴（选配）
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| Jenoptik 业纳（上海）精密仪器设备有限公司 |
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上海·上海市浦东新区秀浦路3999号15幢
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