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| 温度冲击试验箱
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| 产品型号：DECF-50B |
温度冲击试验箱主要用途：
适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制
温度冲击试验箱符合标准:
符合GB2423.22-89Na、GJB150.5-86、MIL-STD-810-503.2等标准。
温度冲击试验箱控制系统:
1、原装进口韩国TEMI880S彩色触摸屏控制器
2、可记忆100组程序（PIN）×1000段（STEP），而各组程序（PIN）最多可执行999回或者无限次返覆执行。
3、微电脑全自动PID+SSR控制方式，既方便又稳定。
4、微电脑智能型多功能控制，具有各组冷冻压缩机、电磁阀、加温HEATER、加温HEATER…等全自动控制输出功能。
5、各系统的主要组件配备有安全检知接口装置，当异常故障发生时，立即经由LCD文字显示故障状态及切断电源。
温度冲击试验箱安全保护系统：
1.系统控制回路保险丝。
2.系统过电流保护装置。
3.附有无熔丝保护开关。
4.超温保护装置。
5.冷冻压缩机过负载保护装置。
6.压缩机高低压保护开关。
7.欠相保护开关。
8.故障指示灯。
9.紧急停止开关。
10.控制器设定错误故障显示及警示。
温度冲击试验箱技术参数：
型号：DECF-50B-80B-100B-150B-250B-300B-480B-560B
工作室尺寸（mm）：360*350*400 500*400*400 600*400*450 600*500*500 700*600*600 800*600*650 1000*650*750 1000*700*800
高温区部分：常温至+150℃
低温区部分：0℃至-55℃。
高 温：常温至+150℃。
低 温：0℃至～-40℃。
控制精度：+(-)2℃。
解析精度：0.01℃。
高温区升温时间：自常温至150℃，约55分钟。3℃/min
低温区降温时间：自常温至 -60℃，约85分钟。1℃/min
测试区温度恢复时间：3-5分钟。
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