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| HP4145B半导体参数分析仪
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| 产品型号：HP4145B |
HP4145B半导体参数分析仪是设计用于半导体的生产线和实验室，它是电子工业中第一个可以独立对半导体器件和材料进行直流测试的仪器。它通过对器件加电压，测电流，或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。
南京奥威主要从事PCM测试相关软件的开发和工艺线系统集成，公司同时可为客户提供EG1034/2001/2010，WENTWORTH MP2020等探针台，HP/Agilent公司的HP4062UX/HP4142B/HP4145A/HP4145B/HP4084/HP4085/HP4275A/HP4280/HP8772 测试仪和Keithley公司S900A/S280/S350测试仪，STS 310/PTI 790/Oxford 80 等离子体增强化学气相淀积设备，STS 320/ PTI 790/PTI 730/xford100反应离子刻蚀设备和STS ICP/ PTI ICP/ Oxford ICP电感耦合等离子体刻蚀等各类进口半导体仪器、设备及备品备件、软件升级开发和相关售后服务工作。公司一贯以高质量的产品、优质的服务、合理的价格来满足各类客户需求。
欲了解详情，请登陆我公司网站 http:// www.allwin21.cn。
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