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| 半导体分立器件测试系统
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| 产品型号：HUSTEC-200-MT-P |
半导体分立器件测试系统系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。
半导体分立器件测试系统是华科智源推出的一款的大功率半导体分立器件和功率半导体模块测试系统。
本系统适合各大研究所做元器件检验以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
半导体分立器件测试系统基本配置
1、主极电压： 0---2000V
2、电压分辨率：1mV
3、主极电流： 0---50A。
可扩展到：100A,200A,400A ，500,600A,800A,1000A，1300A。
4、电流分辨率：1nA 可扩展为10pA
5、测试精度：0.2%+2LSB
6、测试速度：0.5MS/参数
系统测试功能
半导体分立器件测试仪是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：
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| 参考价格：1 |
| 公司其它产品：
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| 深圳市华科智源科技有限公司 |
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地址： |
广东·深圳市宝安区航城鹤洲洲石路739号恒丰工业城C栋816
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| 邮编： | 518102 |
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