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| 波前测试仪
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。
该波前传感器通过对160×120取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（160×120）
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）
参数：
型号 采样数 感光尺寸（mm2） 精度/动态范围 光谱范围 采样速率
SID4 120×160 3.6×4.8 10nm RMS/100μm 350-1100nm 60fps
SID4UV-HR 250×250 8.0×8.0 10nm RMS/200μm 190-400nm 30fps
SID4 NIR 120×160 3.6×4.8 15nm RMS/100μm 1500-1600nm 60fps
SID4-HR 300×400 8.9×11.8 10nm RMS/500μm 400-1100nm 10fps
SID4 DWIR 72×96 10.08×13.44 75nm RMS 3-5μm&8-14μm 50fps
SID4 BIO 300×400 8.9×11.8 500μm 350-1100nm 10Hz
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| 参考价格：面议 |
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| 上海瞬渺光电技术有限公司 |
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地址： |
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| 邮编： | 201108 |
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