Metrolog II 是贵公司测量所有几何要素的工具。它专为现实系统设计，简化编程过程，能节约测量和编程时间。
手动或CNC测量
Metrolog II 能在手动或CNCCMM上提供单点或多点测量。选用Metrolog II 能很容易地存储和调用CNC测量程序，甚至无须任何安装过程就能调用以前存储的程序。
水平通道CMM的完整解决方案
Metrolog II 支持所有水平通道的应用软件，还支持各种外设，比如触摸式开关检测器、结合探测器和自动检测器转换器，并在系统了集成了所有功能能有效完成测量任务。
提交测量报告简便、提供功能强大的图形、文字和用户定义的报告编辑器。
编制程序简便
Metrolog II 自动存储单独测量过的点和测量数据作为测量程序。功能强大的图形编辑器可以比传统程序更节省时间，因为去除了传统程序里要求创制探测通道这道工序，费时又容易出故障。Metrolog II 配置仿真模块：探测通道图形编辑简化和保护零件和CMM。贵公司甚至不用编辑任何程序代码就可以执行辅助程序，图形显示和即时显示当前机器的移动位置和探针位置都能大大简化创建测量程序。
Metrolog II 提供各种类型的几何结构包括角度和距离的计算功能，结构在屏幕上以图形方式显示。
Metrolog II.级别IV. 不规则形状和棱棱柱形测量
Metrolog II 在手动和CNC两用三次测量仪上可测量不规则的表面。选用Metrolog II，能利用它自带的自动和操作简便的模块完成以前传统系统所提供的复杂编程过程。
无需设计部门参与即校正CAD数据
Metrolog II 的标准操作界面支持许多格式，比如IGES, VDAFS, SET 或 STEP以及自带软件格式比如CATIA, UNISURF和UNIGRAPHICS。贵公司可以在生产部门或设计部门直接输入工件的数据，利用数据启动测量程序。集成化的CAD界面能处理各种类型的CAD数据，如Bezier, NURBS和B-Spline等。Metrolog II 畗 用自身的层状结构来处理CAD数据，可在贵公司的CAD系统提供的各级层里删除、屏蔽、旋转、倒转和显示现有的表面元素，然后编辑CAD数据直至满意为止。
在进行测量时可利用Metrolog II 现有的CAD数据作参考
直接输入CAD数据工作
无论是绘制3D透视图还是对绘制模块进行即时图片处理，Metrolog II 畗 都称得上是功能强大的工具。利用贵公司的CAD数据来分析额定值和实际表面数据点的值之间的不同之处，并编译、旋转和复制CAD数据来满足测量的需求。
