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透射密度仪
品牌 台湾 型号 X-rite 369
层数 多层

X-rite 369是一台性能卓越的透射式光密度仪,特别适用于测量重氮片。它在印刷电路板(PCB)领域的质量控制测量中有广泛应用。校准后的X-rite 369将是你对重氮片进行统计质量控制的最佳选择。它可以为供应商和客户节约材料,并帮您发现和解决生产中的问题



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