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半导体分立器件测试仪YB6100(经济型)
产品型号:YB6100
YB6100半导体分立器件测试仪(经济型)
一.测试器件种类:
1、二极管DIODE
2、晶体管 TRANSISTOR
3、J型场效应管J-FET
4、MOS场效应管 MOS-FET
5、双向可控硅开关器件(双向晶闸管)TRIAC
6、单向可控硅整流器(普通晶闸管)SCR
7、绝缘栅双极大功率晶体管IGBT
8、硅触发可控硅STS
9、达林顿阵列DARLINTON
10、光电耦合器件OPTO-COUPLER
11、稳压二极管、齐纳二极管ZENER
IR;BVZ;VzMIN;IR;VF;ZZ
12、三端电源稳压器件REGULATOR
二、测试速度
测试速度38.4K,可带各种机械手、探针台;
三、数据保存
可直接保存为*.txt或excel表格形式,作为数据保存;
四、智能测量
可以单步测试、连续测试,适用于元器件筛选。
五、性价比高
美国技术,关键部件采用进口,整机国产化产品。
六、主要参数
主极参数
1、主极电压: 100mV---2000V
2、电压分辨率:5mV
3、电压精度:1%
4、主极电流:100nA---50A加选件YB550向下可扩展到20pA,
加选件YB580-X向上可扩展到:500A,1000A,1250A。
5、电流分辨率:1nA 加选件YB550分辨率为10pA
6、电流精度:1%+10nA+20pA/V
控制极参数
1、控制极电压:100mV---20V加选件可扩展到80V
2、电压分辨率:5mV
3、电压精度:1%
4、控制极电流:100nA---10A 加选件可扩展到40A
5、电流分辨率:100nA 加选件YB550分辨率为1pA
6、电流精度:1%+10nA+20pA/V


参考价格:面议
公司其它产品:

分立器件测试图示仪EN-2005C
雪崩耐量测试系统
IGBT功率循环测试系统
半导体分立器件参数测试仪EN-2005B
浪涌测试系统
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