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| 3DFAMILY X射线荧光分析仪
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| 产品型号：validator |
产品介绍
第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。
性能特点
◎ 高灵敏度---自动切换4种滤光片
在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
◎自动定性分析
A. 自动过滤背景
X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
B. 自动剥离重叠峰
当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
C. 自动补偿逃逸峰
逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
D.自动追踪谱图漂移
在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
◎ 定量分析
A.FP基础参数法
B.标准法
C.1点校正
主要技术指标：
分析原理 能量色散X射线荧光分析法
分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状 最大460×380mm(高150mm)
样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛 大气
X射线管 靶材 Rh
管电压 最大50KV
管电流 最大1mA
X射线照射径 1/3/5mm
防护 ＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）
检测器 硅SIPIN探测器
光学图像观察 倍率15倍
软件 定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
照射径：1/3/5mm
定量分析：基础参数法/标准法/1点校正
计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上
内存 256MB以上
硬盘 20GB以上
OS WindowXP
监视器 17寸LCD
周围温度 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）
周围湿度 5～31。C时温度范围：最大相对湿度80%以下 / 31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下
电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）
设备重量 约65kg(不含桌子、计算机）
外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm
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| 参考价格：0 |
| 公司其它产品：
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| 昆山智泰光电科技有限公司 |
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江苏·苏州昆山市合兴路343号
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