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Elektrophysik GalvanoTest 2000库伦测厚仪
产品型号:GalvanoTest 2000
Elektrophysik GalvanoTest 2000库伦测厚仪
德国EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层厚度。
可以测量70种以上镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件
预置9种金属的测量参数:Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。
用户可另设置1种金属的测量参数

德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GalvanoTest 2000,应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀,但电化学反应的方向相反,是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属,而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠,仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成,操作者不需要专业知识。 GALVANOTEST3000库仑镀层测厚仪
库仑法又是唯一能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镊、铬等。
GalvanoTest 2000库伦测厚仪

GalvanoTest 2000库伦测厚仪存储
可存储不同金属测量参数的数目
可存储2000个读数和统计值
仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。

统计计算
显示6种统计值:均值、标准偏差、变异系数、最大、最小值、读数个数
立即或稍后显示统计值
显示、打印年、月、日、时、分

GalvanoTest 2000库伦测厚仪用于外设的计算机接口:
MINIPRINT 微型打印机接口
RS-232,PC计算机接口
连接x-t计录仪模拟电压输出接口
测量范围:最大测量范围:0.05-75μm

参考价格:111
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