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| Aberlink Project X非接触式影像测量系统
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Aberlink系列Project X影像测量系统不同于市场上的同类产品，其采用了最新专利光栅技术，针对广泛2D尺寸测量，但价格与投影仪相差无几。传统投影仪由于其在非穿透性特征测量方面的限制已逐渐被取代，但Project X以其广泛的适用性将长期存在。
◆结合全新科技，运用最新光栅尺技术，无需归零操作，可以任意随时使用
◆机器集成测量单元，气浮系统与电脑系统于一体
◆稳定的工作台和移动的CCD使得在测量过程中无须装夹工件
◆针对广泛2D尺寸测量，与其它同等价格的影像测量仪相比，测量范围较大：400×300mm
◆整机采用气浮轴承，移动快捷，操作方便
◆镜头：300百万像素彩色CCD镜头，自动聚焦
◆光源：16颗LED自动控制环光光源，背透式平行光源，光亮度无级调节
◆视觉系统清晰锐利，确保高精密影像测量
◆Z轴的焦距较长，测量工件可高达125mm，由马达控制，可自动快速、准确聚焦
◆软件直接控制LED环光灯和背光灯的亮度
◆软件直接控制影像自动缩放，无须改变镜头
◆完整影像测量软件包，具备全自动快速抓边功能，无须人为选择，快速获取图形及表格报告。
◆针对专业零件测量（如齿轮、螺纹），可做2D扫描
影像系统
镜头
300百万像素彩色CCD镜头，自动聚焦
光源
16颗LED自动控制环光光源，背透式平行光源，光亮度无级调节
技术参数：
型 号
Aberlink Project X
镜头Camera
彩色2048×1536 pixels低噪声，USB2.0接口
视野Field of view
10mm at 4.8 um/pixel
机台体积mm
640×760×670mm
测量软件
Aberlink影像测量软件
适用行业
目前我们的用户广泛分布于汽车，模具，电子元器件、塑料与橡胶成品、半导体元器件、冲压件、接插件、机械加工、包装印刷、食品、军工、航天航空等行业。
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| 参考价格：- |
| 公司其它产品：
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| 威申精密仪器（上海）有限公司 |
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地址： |
上海·上海市浦江镇漕河泾开发区浦江高科技园新骏环路188号3号楼一层
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| 邮编： | 201114 |
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