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电子工业设备展厅 |
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| probe 探针台 探针测试
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主要用途
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试
性能参数
放大倍数50X，100X，200X，500X
8个探针座
带屏蔽箱
应用范围
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等
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| 参考价格：500 |
| 公司其它产品：
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| 仪准科技（北京）有限公司 |
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地址： |
北京·北京市海淀区西小口路66号东升科技园D-3楼
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| 邮编： | 100085 |
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电话： |
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