|
电子工业设备展厅 |
|
| 请选择展区 |
|
|
| |
|
|
| |
|
|
|
|
| TZ-602型自动探针测试台
|
|
高速机型，可实现遮光测试。主要用于管芯大小≤1mm、压焊点≥100μm的半导体器件，光电元件芯片的自动中测，与相应测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试。
主要技术特点
1. 全封闭立式结构，进口导轨丝杠工作台，高速精密半闭环控制方式
2. 支持测试仪及设备一体化（预留有集成空间）
3. 支持遮光测试、可测光敏元件
4. 可调式分离针探头测试（探卡测试另选）
5. 单片机控制系统主控
6. 256色真彩显示屏（7″）
7. 全中文操作系统
8. 具有探高测试功能
9. 同步/延时打点任选
10. 手动/自动测试任选
11. 自动测试方式灵活多样（矩阵、探边、圆形）
12. 具有掉电保护功能
13. 系统帮助与各种提示信息
14. 公/英制步距
主要技术指标
□ 可测片径：3″、4″、5″、6″
□ 显微镜：放大倍数14X～90X
□ 工作台行程：200mm×280mm
□ 工作台速度： X：300mm/s Y：100mm/s
□ 步进分辨率:0.005mm
□ 定位精度:≤0.01mm
□ 重复精度:≤0.003mm
□ 步距范围:0.005～99.999mm/0.001″～9.999″
□ Z向行程:0～3mm
□ Z向精度:±0.003mm
□ Z向分辨率: 0.004mm
□ θ向调节范围:±15°
□ 外形尺寸（长×宽×高）:725mm×650mm×1400mm
□ 重量:200㎏
□ 功率:0.5kW
□ 电源: AC 220V±22V 50Hz±1Hz
□ 真空:0.08MPa（用户自备）
□ 使用温度环境:15℃-25℃
相对湿度:＜70%
□ 延时打点个数：1～3个
□ 测试仪接口:TTL、RS232
□ 最大可布探头数：5支、打点器2支、探边器1支
|
| 参考价格：- |
| 公司其它产品：
| |
| |
|
|
|
| | |
| 中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
|
地址： |
河北·河北三河市燕郊开发区海油大街20号
|
| 邮编： | 065201 |
|
电话： |
请点击此处与厂家联系
|
|
对 探针台 有何见解？请到
探针台论坛 畅所欲言吧！
|
