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FIB聚焦粒子束 IC设计 芯片线路修改切线连线 定点切割
应用范围

1.定点切割

2.穿透式电子显微镜试片

3.IC线路修补和布局验证

4.制程上异常观察分析

5.晶相特性观察分析

6.故障位置定位用被动电压反差分析

参考价格:1500/H
公司其它产品:

探针台 probe 手动探针台
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酸开封机 开封 开盖 开帽 decap
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