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FIB聚焦粒子束 IC设计 芯片线路修改切线连线 定点切割
应用范围
1.定点切割
2.穿透式电子显微镜试片
3.IC线路修补和布局验证...
(7/8/2024)
(参考价格1500/H)
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开封 开帽 开盖 芯片decap 芯片测试 开封机
半导体业的铜制成芯片越来越成为发展主流，这给失效分析中器件开封带来越来越高的挑战。传统的酸开封已经没...
(7/8/2024)
(参考价格200/ea)
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 探针座微调节台探针台配件probe
Probe 零配件
MP-08/MP-06 探針座
X-Y-Z 移動精度：100 T.P.I...
(7/8/2024)
(参考价格邮件)
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 probe探针探针台耗材探针测试
型号 规格
ST-20-0.5 ...
(7/8/2024)
(参考价格500)
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 微光显微镜 激光显微镜EMMI
应用范围
1.P-N接面漏电
2.饱和区晶体管的热电子
3.P-N接面崩溃 ...
(7/8/2024)
(参考价格1050)
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 probe 探针台 探针测试
主要用途
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试
性能参数
...
(7/8/2024)
(参考价格500)
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 SAT超声波扫描仪
应用范围
1.检测IC、Power、IGBT等半导体元器件的芯片裂纹、PKG裂纹、分层气泡、...
(7/8/2024)
(参考价格1000)
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 酸开封机 开封 开盖 开帽 decap
产品型号：SESAME 707/777Cu混合酸开封系统
关键应用：
快速的IC蚀刻时间
即使是最易损坏的器件也能容易的开封
设计紧凑，占地面积小...
(7/8/2024)
(参考价格cc)
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 探针台 probe 手动探针台
产品型号：pw-400
型号： PW-400
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
...
(7/8/2024)
(参考价格cc)
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 开短路测试仪 IV自动曲线测试仪
开短路的测试 I/V曲线的观察，机台本身除了可作产品的失效分析外，还可结合Auto Handler，...
(7/8/2024)
(参考价格2)
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